<acronym id="pokdi"><strong id="pokdi"></strong></acronym>
      <acronym id="pokdi"><label id="pokdi"><xmp id="pokdi"></xmp></label></acronym>

      <td id="pokdi"><ruby id="pokdi"></ruby></td>
      <td id="pokdi"><option id="pokdi"></option></td>
      <td id="pokdi"></td>

        1. 首頁
        2. 裝備資訊
        3. 熱點專題
        4. 人物訪談
        5. 政府采購
        6. 產品庫
        7. 求購庫
        8. 企業庫
        9. 品牌排行
        10. 院校庫
        11. 案例·技術
        12. 會展信息
        13. 教育裝備采購網首頁 > 知識產權 > 專利 > CN2612944Y

          微量樣品光度檢測裝置

            摘要:本實用新型公開了一種微量樣品光度檢測裝置。該微量樣品光度檢測裝置包括有光源、單色儀和基座,該基座上開有通孔,該通孔的下方固定安裝底座,下探針插裝在該底座上;所述基座上設置有鉸鏈,該鉸鏈上以可以活動的方式安裝有活動臂,上探針固定安裝在該活動臂上,其位置與所述下探針的位置相對應;所述下探針通過光纖與所述光源或所述單色儀連接,所述上探針對應于上述下探針通過所述光纖與上述單色儀或上述光源連接。本實用新型操作簡單、清洗方便,并且所需被檢測的樣品用量微小,特別適用于對珍貴或不易采集制作的樣品進行微量分析。
          • 專利類型實用新型
          • 申請人北京普析通用儀器有限責任公司;
          • 發明人孫宏偉;馬放均;
          • 地址100083北京市海淀區清華東路17號79信箱
          • 申請號CN03245599.2
          • 申請時間2003年04月22日
          • 申請公布號CN2612944Y
          • 申請公布時間2004年04月21日
          • 分類號G01N21/01;G01N21/25;
          99久久国产自偷自偷免费一区|91久久精品无码一区|国语自产精品视频在线区|伊人久久大香线蕉av综合

            <acronym id="pokdi"><strong id="pokdi"></strong></acronym>
              <acronym id="pokdi"><label id="pokdi"><xmp id="pokdi"></xmp></label></acronym>

              <td id="pokdi"><ruby id="pokdi"></ruby></td>
              <td id="pokdi"><option id="pokdi"></option></td>
              <td id="pokdi"></td>