摘要：本實用新型提供了一種大顆粒物料的近紅外光譜分析裝置，所述近紅外光譜分析裝置包括分析儀表；采樣單元，所述采樣單元用于采樣待測樣品，并送粉碎單元；粉碎單元，所述粉碎單元用于粉碎傳送來的待測樣品，粉碎后的待測樣品送分析儀表分析；留樣單元，所述留樣單元安裝在所述粉碎單元的下游，用于留樣分析后的待測樣品。本實用新型具有精度高等優點。
- 專利類型實用新型
- 申請人聚光科技（杭州）股份有限公司;
- 發明人周新奇;韓雙來;郭中原;楊偉偉;陳勝福;慎石磊;張丹;胡杰;吳鍵波;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區濱安路760號
- 申請號CN201521140478.0
- 申請時間2015年12月31日
- 申請公布號CN205484031U
- 申請公布時間2016年08月17日
- 分類號G01N21/359(2014.01)I;G01N21/3563(2014.01)I;
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
