摘要：本發明提供了化驗數據質量的評估方法，所述評估方法包括以下步驟：(A1)使用光譜分析儀掃描樣品，獲知樣品的光譜si，i為正整數；通過化驗分析所述樣品，獲知化驗數據分析值yi；(A2)將每一個樣品的光譜與化驗數據一一對應，獲得光譜數據集X＝[s1,s2,…sn]、化驗數據集y＝[y1,y2,…yn]；(A3)建立所述光譜數據集和化驗數據集間的分析模型y＝f(X)；(A4)獲得樣品的光譜si，i＝1,2,…n，n為樣品數量，并利用所述分析模型y＝f(X)獲得樣品的化驗數據計算值![]()
(A5)得出樣品的化驗數據計算值![]()
以及該樣品的化驗數據分析值yi間的統計學的偏差，該偏差越接近于零，化驗數據分析值質量越高。本發明具有省時、可靠等優點。
- 專利類型發明專利
- 申請人聚光科技（杭州）股份有限公司;
- 發明人周新奇;慎石磊;肖鑫龍;楊偉偉;韓雙來;俞曉峰;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區濱安路760號
- 申請號CN201610797122.7
- 申請時間2016年08月31日
- 申請公布號CN106442376A
- 申請公布時間2017年02月22日
- 分類號G01N21/35(2014.01)I;
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
