摘要：本發明提供了一種提高時間戳測量精度的方法及裝置，所述方法包括：獲取與被測周期信號具有預設頻率偏差的采樣時鐘；被測周期信號的頻率為f1，采樣時鐘的頻率為f2，f2＝(1+1/N)*f1，N≥2，N為正整數；利用采樣時鐘對被測周期信號進行采樣，獲得一個周期性采樣信號，該周期性采樣信號的周期為被測周期信號的周期T1的N倍；當在某時刻檢測到被測事件時，獲取與該時刻對應的粗計數器的計數值n，以及細計數器的計數值m，并根據n和m獲取被測事件的時間戳[n+m*(1/N)]*T2。本發明提供的提高時間戳測量精度的方法及裝置，實現起來較為方便，對器件性能要求較低，且根據需要能夠達到優于傳統時鐘計數法的時間精度。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京飛利信電子技術有限公司;
- 發明人楊振華;曹忻軍;陳洪順;徐統業;
- 地址100191 北京市海淀區塔院志新村2號飛利信大廈9層
- 申請號CN201610787322.4
- 申請時間2016年08月30日
- 申請公布號CN106301656A
- 申請公布時間2017年01月04日
- 分類號H04J3/06(2006.01)I;
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