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          基于雙芯片電子標簽的加密校驗方法

            摘要:本發明提出一種基于雙芯片電子標簽的加密校驗方法,它采用了兩個射頻識別芯片A芯片和B芯片,在A芯片中的EPC區任取a位字符,在B芯片的EPC區任取8-a位字符組成8位字符的密碼,并將該密碼存入加密區,將A芯片的TID存入到B芯片的用戶區,將B芯片的TID存入到A芯片的用戶區,作為校驗依據,校驗時,讀取B芯片的TID并與存儲在A芯片中的B芯片的TID做比較,而且讀取A芯片的TID并與存儲在B芯片中的A芯片的TID作比較,如果有一個不相同,則校驗失敗,不進入輸入密碼的步驟,如果兩個都相同,則可以輸入密碼。采用這種方法加密等級非常高,理論上密碼是不會被破解。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人寧波立芯射頻股份有限公司;
          • 發明人司海濤;高博;
          • 地址315000 浙江省寧波市鄞州區啟明路818號20幢133號
          • 申請號CN201310717833.5
          • 申請時間2013年12月23日
          • 申請公布號CN103745253B
          • 申請公布時間2016年06月15日
          • 分類號G06K19/073(2006.01)I;
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