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          測試系統及測試方法

            摘要:一種測試系統及測試方法。該測試系統包括:一待測的電子裝置,該待測的電子裝置包括一中央處理器以及一第一通用串行總線接口;以及一網絡連接裝置,該網絡連接裝置包括一局域網絡模塊以及一第二通用串行總線接口;上述局域網絡模塊經由一局域網絡端口耦接于一遠程服務器;其中當上述網絡連接裝置的上述第二通用串行總線接口耦接于上述待測的電子裝置的上述第一通用串行總線接口時,上述待測的電子裝置的上述中央處理器根據來自上述網絡連接裝置的一預先開機執行環境程序代碼,經由上述網絡連接裝置的上述局域網絡模塊以及上述局域網絡端口,而得到來自上述遠程服務器的一特定程序。本發明可降低BIOS碼的大小,還可提高生產效率。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人緯創資通股份有限公司;緯創資通(昆山)有限公司;
          • 發明人唐浩;
          • 地址中國臺灣新北市汐止區新臺五路一段88號21樓
          • 申請號CN201210291581.X
          • 申請時間2012年08月15日
          • 申請公布號CN103593281B
          • 申請公布時間2016年06月15日
          • 分類號G06F11/36(2006.01)I;G06F11/22(2006.01)I;
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