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          玉米苗期缺苗數的測量方法及裝置

            摘要:本發明提供一種玉米苗期缺苗數的測量方法及裝置,涉及農作物信息技術領域。該方法包括步驟S1、獲取玉米苗期植株圖像,得到圖像序列I(I1,I2,...In),n為正整數;S2、將所述圖像序列I(I1,I2,...In)中的相鄰兩幅圖像的重復區域進行拼接,得到一幅玉米苗期行向圖像IW;S3、對所述玉米苗期行向圖像IW進行分割與識別,獲取玉米苗期植株莖稈位置,并計算玉米苗期植株莖稈行向直線;S4、根據所述玉米苗期植株的莖稈行向直線識別缺苗位置,并計算缺苗數。本發明所述方法及裝置具有較高的自動化程度,能夠代替人工方法調查玉米苗期缺苗數量,減少人力投入成本,去除人為誤差的干擾。使評價玉米種子的品質、測量播種機具的作業精度指標的獲取更加簡潔。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人北京農業信息技術研究中心;
          • 發明人王傳宇;郭新宇;肖伯祥;杜建軍;吳升;
          • 地址100097 北京市海淀區曙光花園中路11號農科大廈A座318b
          • 申請號CN201310370436.5
          • 申請時間2013年08月22日
          • 申請公布號CN103413172A
          • 申請公布時間2013年11月27日
          • 分類號G06M11/00(2006.01)I;
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