摘要：本發明涉及一種適合于X熒光多元素分析儀測量的密封膜片滲漏測量裝置及方法。該裝置采用雙層膜片對探測腔體內部空間進行密封保護，并在內膜片與外膜片之間用安裝有用絕緣圈間隔開的二塊銅板，利用二極管的反向截止和水的導電性，來判斷外銅板與內銅板之間是否因接觸到礦漿而形成導通，進而判斷外膜片4的密封是否發生滲漏。一旦檢測到外膜片滲漏或線路連接故障，可通過繼電器發出報警信號，使儀器啟動保護措施。
- 專利類型發明專利
- 申請人丹東東方測控技術股份有限公司;
- 發明人張偉;佟超;于海明;龔亞林;尹兆余;陳樹軍;周洪軍;金鑫;李劍鋒;王政;梁宏偉;夏遠恒;曲寶劍;溫曉光;劉家勇;畢然;
- 地址118002 遼寧省丹東市沿江開發區濱江中路136號
- 申請號CN201310026786.X
- 申請時間2013年01月24日
- 申請公布號CN103148996B
- 申請公布時間2015年03月04日
- 分類號G01M3/16(2006.01)I;
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