摘要：本發明涉及一種光譜分析方法，包括以下步驟：A1、建立分析模型：激發未知樣品，獲得原子光譜信息；根據未知樣品的光譜信息，從用于建模的標準樣品中選擇對應于元素的建模標樣，并根據建模標樣建立元素含量/誘導含量與譜線數據之間的分析模型；A2、分析未知樣品含量：將從所述光譜信息中獲取的未知樣品的譜線數據，代入上述分析模型，得出未知樣品相應元素的含量。本發明具有分析準確、回歸誤差小、操作簡便等優點。
- 專利類型發明專利
- 申請人聚光科技(杭州)股份有限公司;
- 發明人呂全超;吳繼明;張東明;
- 地址310052 浙江省杭州市濱江區濱安路760號
- 申請號CN201010622416.9
- 申請時間2010年12月31日
- 申請公布號CN102103079B
- 申請公布時間2013年12月11日
- 分類號G01N21/62(2006.01)I;G01N21/63(2006.01)I;
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
