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          全自動非損傷微測技術

            摘要:本發明提供一種全自動控制微電極接近樣品進行測量,非損傷性獲得進出樣品離子分子濃度、流動速率及流動方向信息,樣品表面局部電流信息等樣品微區信息的方法。本發明包括信號采集單元(1)、多維運動單元(2)、智能控制單元(3)以及顯微成像/視頻采集單元(4)。智能控制單元(3)通過分析信號采集單元(1)及顯微成像/視頻采集單元(4)傳輸的信號,向多維運動單元(2)和顯微成像/視頻采集單元(4)發出控制指令,控制微電極與被測樣品的運動,實現微電極全自動采集被測樣品信息。該方法對被測樣品無任何損傷,操作過程完全自動化,不受人為操作因素影響,所獲數據穩定可靠,能夠應用于生物活體及非生物體等諸多樣品。
          • 專利類型發明專利
          • 申請人旭月(北京)科技有限公司;
          • 發明人許越;
          • 地址100080 北京市海淀區蘇州街49-3號盈智大廈601
          • 申請號CN200910090085.6
          • 申請時間2009年07月31日
          • 申請公布號CN101988914A
          • 申請公布時間2011年03月23日
          • 分類號G01N27/27(2006.01)I;G01N27/333(2006.01)I;G01N27/36(2006.01)I;
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