摘要：本發明提供了一種小屏蔽體電磁屏蔽效能測試裝置、系統和方法。在需要測量的頻率范圍內選擇多個頻點進行測量。本發明使用點頻輻射源作為信號源放在被測小屏蔽體內，不同頻率通過不同的發射天線，將信號發射到小屏蔽體外，然后在小屏蔽體外通過相對應的接收天線進行接收，再放大后輸出到一個頻譜儀進行測量。其中發射天線在全頻段內進行了小型化處理，且置于點頻輻射源內，特別是磁場發射天線采用了全新設計和蜂窩式繞法，大大提高了發射效率。磁場接收天線采用了帶有電屏蔽的共面環型天線全新的設計使得它具有翻轉180°后基本不影響測量性能的特點。本發明的測試裝置使用簡便，成本較低，值得推廣應用。
- 專利類型發明專利
- 申請人北京大澤科技有限公司;
- 發明人李立嘉;
- 地址100016北京市朝陽區將臺路2號
- 申請號CN200910090031.X
- 申請時間2009年07月30日
- 申請公布號CN101662078A
- 申請公布時間2010年03月03日
- 分類號H01Q23/00(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I;H03K3/02(2006.01)I;H03L7/08(2006.01)I;
教育裝備采購網在線客服
京公網安備11010802043465號
