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        1. 教育裝備采購網
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          這臺AFM,可直接掃描大尺寸樣品!隨身攜帶,一個針尖進行上千次掃描!

          教育裝備采購網 2022-09-30 09:01 圍觀6857次

            研發背景:

            在使用傳統的原子力顯微鏡(AFM)對大型工業產品進行形貌表征時,由于受到傳統AFM樣品臺尺寸的限制,首先需要對工業產品進行一定程度的破壞來提取一個可放置在AFM上的樣品,再對該樣品進行形貌表征。然而,一些工業產品如果對其提取樣品,會帶來災難性的后果,如飛機機翼,各類發動機和車船軸承。同時,對于大型工業產品而言表面形貌表征往往是分析材料失效,斷裂分析和表面保護等領域重要的檢測手段。

            為了解決這一問題,加拿大ICSPI公司設計和生產的便攜式Vertex原子力顯微鏡(AFM),基于其研發的芯片式自感應探針技術,擺脫了傳統AFM對激光的依賴,帶給了傳統AFM革命性的變化! Vertex便攜式芯片原子力顯微鏡(AFM)具有小巧靈活、方便攜帶,操作簡單,掃描速度快,可直接掃描工業產品,無需維護、無需減震、超級穩定等優點,適合各類工業產品的表面檢測和野外作業等場景的3D表面形貌快速成像分析。Vertex AFM所采用的創新技術很大程度上降低了傳統AFM的復雜操作,也拓寬了傳統AFM的應用范圍!

          這臺AFM,可直接掃描大尺寸樣品!隨身攜帶,一個針尖進行上千次掃描!

          這臺AFM,可直接掃描大尺寸樣品!隨身攜帶,一個針尖進行上千次掃描!

          圖1. Vertex便攜式芯片原子力顯微鏡(AFM)實物圖。左圖Vertex便攜式原子力顯微鏡,右圖為Vertex核心的壓電掃描探針。

            Vertex便攜式原子力顯微鏡(AFM)特點:

            可直接掃描大型工業產品

            研發的AFM微納機電芯片技術,使得Vertex原子力顯微鏡(AFM)可以在大尺寸工業產品上直接進行形貌掃描,無需進行破壞性制樣。

            便攜,簡單,易用

            Vertex自帶電池電源,可通過無線信號對Vertex進行操作,設備方便攜帶,尺寸僅為20 x 15 x 10 cm,僅需三步就可對樣品進行納米級表面形貌表征。

            更高性價比

            掃描速度快,可掃描大尺寸樣品。一個針尖可以進行上千次掃描,無需繁瑣的更換針尖操作和其他后期維護工作。

            應用場景:

          這臺AFM,可直接掃描大尺寸樣品!隨身攜帶,一個針尖進行上千次掃描!

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          航空設備管道設備

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          車輛設備工業設備

            設備參數:

            尺寸: 20 x 15 x 10 cm

            成像模式: 輕敲模式(Tapping)

            成像結果: 形貌圖, 相位圖

            X-Y-Z單次掃描范圍: 20 x 20 x 10 μm

            分辨率: < 0.5 nm

            掃描速度: 80 sec

            分辨率高達: 1024 x 1024 pixels

            無線連接協議: WIFI 802.11n, Bluetooth 5

            自身電池容量: 12,000 mWh

            充電電源需求: 110-240 VAC

            操作系統要求: Windows 10, 11

            相關產品:

            1、nGauge便攜式芯片原子力顯微鏡

          點擊進入QUANTUM量子科學儀器貿易(北京)有限公司展臺查看更多 來源:教育裝備采購網 作者:Quantum量子科學儀器貿易(北京)有限公司 責任編輯:張肖 我要投稿
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