光譜角分布測量系統
■ 全波段光譜透過率測量，反射角分布測量 ■ 全波段光譜反射率測量，反射角分布測量 ■ 波長范圍:200nm-IR ■ 不同的光譜范圍可能需要不同的光學光路設計結構 ■ 雙層平臺獨立旋轉，重復定位精度0.005度，分辨率0.00125度； ■ 樣品置于上層旋臺，探測器置于下層旋臺，樣品和探測器可以任意角度工作； ■ 臺面上放置一個五維調整鏡座，可將樣品調整到旋臺的旋轉中心并且垂直于臺面 ■ 功能擴展：測量光柵衍射效率
