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          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

          教育裝備采購網 2018-10-19 13:12 圍觀527次

            在標準的 EMI(輻射發射)測試中,實驗室都是使用 EMC 自動測試軟件、EMI 接收機和經過準確校準的接收天線等組成測試系統,在標準的 3 米法暗室或者 10 米法暗室中,進行 3米或 10 米測試距離的測試,這稱為遠場測量。電磁場的特性主要由被測器件(EUT)與接收天線的距離決定。遠場輻射發射測量可以準確地告訴我們被測器件是否符合相應的 EMC 標準。

            但是,遠場測試也有一些局限性。它無法告訴工程師,超標輻射發射問題到底是來自于USB、LAN 之類的通信接口,還是來自殼體的縫隙,或來自連接的電纜乃至電源線。在這種情況下,我們通常只能使用頻譜分析儀和近場探頭,通過近場測試來定位這些發射源。近場測試是一種相對量測試,這意味著它需要把被測器件的測試結果與基準器件的測試結果進行比較,以預測被測器件通過一致性測試的可能性。需要注意的是,比較近場測試結果與 EMI標準測試極限是沒有意義的。

            我們在日常的測試中經常遇到在標準測試中非常明顯的干擾頻率點及其倍頻信號,在使用進場探頭測試的時候回看不清,或者很難找到,我們也通過實驗驗證了這個問題,下圖是我們在 3 米法暗室中對某設備的測試結果:

          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

            在圖中我們可以清晰的看到干擾頻率點及其諧波,接下來我們以同樣的接收機設置,使用普通近場探頭對被測設備在相同的 3 米法暗室中進行了全方位的近場測試,測試結果如下圖:

          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

            我們分別使用了磁場探頭和電場探頭進行了全方位測試,從測試數據中可以看出,兩種探頭的測試結果差異很大,且對比遠場測試數據可以發現,在遠場測試中很明顯的干擾頻點及其諧波在近場測試中很多都是無法看到的,那么這樣的問題會對我們進行輻射發射問題整改帶來很大的困擾。

            針對以上問題,海洋儀器推出了新型的近場測試系統,該測試系統主要由 EMC 分析儀和新型近場探頭組組成,專門用于 EMC 診斷測試。

          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

            EMC 分析儀主要技術指標如下:

            頻率范圍: 9 kHz ~ 3.25 GHz

            6dB 電磁干擾濾波器 200 / 9k / 120kHz

            準峰值 / 電磁干優平均值 檢波器

            內建 預放大器

            專屬電磁兼容性預測試功能

            追縱源產生器 (選配) USB/LAN/RS-232/GPIB (選配)

            EMC 分析儀內置了專用的 EMC 測試功能,如下圖所示:

          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

            1.專用的 EMC 測試套件提供了五組常用的電磁兼容功能,內置了標準頻率設定如

            Band A: 9k – 150kHz

            Band B: 150k – 30MHz

            Band C: 30M – 300MHz

            Band D: 300M – 1,000MHz

            Band E: above 1GHz

            用戶也可自定義設置

            2.內置了 EN55022、FCC Part 15 等 EMC 標準的限制線等功能,這些測試配置和限制線都可以由用戶進行自定義設置,

            3. 可自定義天線系統 / LISN 校正系數。

            新型近場探頭組主要技術指標如下:

          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

            PR-01: 交流電壓探頭*1

            PR-02: 接觸式探頭*1

            ANT-04: 近場感應探頭*1

            ANT-05:近場感應探*1

          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

            我們使用新型測試系統與傳統 EMI 診斷系統進行了對比實驗,結果如下:

          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

            從測試數據中可以明顯看出,使用新型探頭能看到更多的干擾頻率點。

            接下來,我們進行了使用新型近場測試系統與標準遠場測試系統的比對,首先,我們選定一個被測件,進行一次完整的輻射發射實驗,測試結果如下:

          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

            使用遠場測試數據,我們對探頭修正系數據錄入 EMC 分析儀,之后使用新型進場探頭以相同設置在電波暗室中進行了近場掃描,得到如下測試結果。

          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

            對比兩組測試數據可以看出,使用新型近場測試系統測到的輻射發射結果與標準遠場測試結果已經非常接近,干擾頻率和幅度基本相同。

            原文地址:進場探頭近場探頭https://www.gooxian.com/newsinfo/1517.html

            除此之外新型近場測試系統還可進行輻射抗擾度測試,EMC 分析儀的信號輸出功能可以模擬輻射干擾源,雖然未具備 AM 調變輸出,但在輸出 0 dBm 時仍能達到 3V/m 的干擾場強,仍極具有參考價值。

          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

          使用近場探頭測到接近遠場測試的數據

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