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JD-9200型激光粒度分析儀（符合GB/T19077-2008標準）
性能特點：
JD-9200型激光粒度分析儀是通過測量顆粒群的衍射(散射)譜經計算機進行處理來分析其顆粒分布的?？捎脕頊y量各種固態顆粒、測量霧滴，氣泡及任何二相懸浮顆粒狀物質的粒度分布，測量運動顆粒群的粒度分布。它不受顆粒的物理、化學性質的限制。有超聲、循環的樣品分散系統，測量范圍廣，自動化程度高、操作方便、測試速度快、測量結果準確、可靠、重復性好。是石油化工、陶瓷、燃料、水泥、煤粉、研磨材料、金屬粉末、泥沙、礦、霧滴、乳濁液等粒度分析儀的理想儀器。
主要技術指標：
準確度：體積(重量)不確定范圍達到GBW(E120009C)標準物質用于一般儀器鑒定規程的要求
測量速度：單次光學采樣20微秒并行，處理時間少于1分鐘
測量方式：靜態、液態、液態循環
結果輸出：打印，各級顆粒體積(重量)與顆粒數的直方圖、百分比、累計百分比、D10粒徑、D50粒徑、D90粒徑、峰值粒徑、個數平均粒徑、重量平均粒徑、面積平均粒徑、比表面積、擬合精度
型號：JD-9200
數級：32級
測量范圍：0.1-330um
精密度：<3%(標準物質D50)
尺寸：600X390X300mm
產品簡介
光在傳播中，波前受到與波長尺度相當的隙孔或顆粒的限制，以受限波前處各元波為源的發射在空間干涉而產生衍射和散射，衍射和散射的光能的空間(角度)分布與光波波長和隙孔或顆粒的尺度有關。用激光做光源，光為波長一定的單色光后，衍射和散射的光能的空間(角度)分布就只與粒徑有關。對顆粒群的衍射，各顆粒級的多少決定著對應各特定角處獲得的光能量的大小，各特定角光能量在總光能量中的比例，應反映著各顆粒級的分布豐度。按照這一思路可建立表征粒度級豐度與各特定角處獲取的光能量的數學物理模型，進而研制儀器，測量光能，由特定角度測得的光能與總光能的比較推出顆粒群相應粒徑級的豐度比例量。
產品特性
采用濕法分散技術，機械攪拌使樣品均勻散開，超聲高頻震蕩使團聚的顆粒充分分散，電磁循環泵使大小顆粒在整個循環系統中均勻分布，從而在根本上保證了寬分布樣品測試的準確重復。
測試操作簡便快捷：放入分散介質和被測樣品，啟動超生發生器使樣品充分分散，然后啟動循環泵，實際的測試過程只有幾秒鐘。測試結果以粒度分布數據表、分布曲線、比表面積、D10、D50、D90等方式顯示、打印和記錄.
輸出數據豐富直觀：本儀器的軟件可以在各種計算機視窗平臺上運行，具有操作簡單直觀的特點，不僅對樣品進行動態檢測，而且具有強大的數據處理與輸出功能,用戶可以選擇和設計最理想的表格和圖形輸出。
問：我在一家公司做質檢，操作一臺激光粒度分析儀，是測硅微粉粒度的，一般得到的圖形在粗端處都是很平滑的，最近做一批料子，曲線尾巴處會拖一個凸起的泡，排除是氣泡的可能性，那么是料子團聚嗎?但將硅微粉超聲后仍然存在凸起，公司前輩說圖形尾巴多一個凸起是不對的，到最后應該得到平滑的線，可是有些料子在曲線前端也會有凸起和凹處，那這些圖形如何解釋呢?粒度分布圖有個準確的范圍嗎?
答：首先在粗粒部分出個小峰不能說一定是不對的，其實粉體生產是很難控制大粒部分上限的。硅微粉原來的規格標準(以目為單位)其實是在粉體比較粗的情況下制定的。粗粉可在生產工藝中直接用篩網控制粗顆粒，在400目以下粉體一般無法再使用此工藝來控制。此時沿用目的標準不科學。你可以查查硅微粉的新標準，使用新標準技術體系的話，根本不再關心上限部分一點小峰的問題。(標準號SJ/T10675-2002)
再回到那個粗粒小峰是否真實的問題上來，最直接的方法就是用顯微鏡看。我覺得很奇怪的是硅微粉生產企業其實很關心粉體粒徑上限，但非常多的企業卻連顯微鏡都沒有。激光粒度儀的測試原理決定了它不可能非常真實的反映極限粒徑。其它的沉降法儀器等類型的也做不到。
